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等离子体发射光谱测量系统

  • 产物型号:OmniES-Plasma
  • 产物时间:2024-05-20
  • 简要描述:该系统用于测量等离子体发射光谱测量,采用模块化设计 采用光纤导光或空间光耦合
  • 产物介绍
 ● 该系统用于测量等离子体发射光谱测量,采用模块化设计
● 采用光纤导光或空间光耦合
● 可定位测量空间位置(选配功能)
● 测量光谱范围:200-2500nm或1μm-14μm
● 光谱分辨率:优于0.05nm(@1200g/mm光栅)
● 波长准确度:优于±0.2nm
● 波长重复性:优于±0.1nm
● 光谱仪控制软件包含滤光片轮自动控制功能、光谱曲线绘制功能、全自动测量、数据运算、保存及打印等功能
 

 

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